Testing House Korea | TK-2 電路板全功能飛針測試/偵錯系統

test position and information generate

  • 唯一可真正取代電路板 ICT/ATE 的全自動飛針測試系統

  • 不須任何測試的夾/治具

  • 大幅降低電路板測試/偵錯成本

  • 具備電路板 AOI 光學檢測功能及 V/I,Open/Short,IR Scan…等全功能測試

  • 可客製化電路板尺寸測試平台

  • 完整的測試統計報告及條狀統計圖

  • 無須 CAD/Gerber/ 電路圖也能簡易開發測試程式

TK-2 Status

TK-2 Status

open and short test

Testing House Korea | TK-2 電路板全功能飛針測試/偵錯系統

  • 唯一可真正取代電路板 ICT/ATE 的全自動測試系統

  • 不須任何測試的夾/治具

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  • 具備電路板 AOI 光學檢測功能及 V/I,Open/Short,IR Scan…等全功能測試

  • 可客製化電路板尺寸測試平台

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