ProSort | BGA/ IC 功能篩選系統
新世代的測試設備 Pro-IC Defect Tester 可完全檢驗所有的IC, BGA 等積體電路晶片的功能是否有缺陷,搭配獨特的四線式量測模組專利及特殊設計的測試探針可以快速測試及驗證每顆IC 的特性,可用於進料檢驗及 RMA 維修料件驗證。
設備特點
程式製作為自我學習模式,簡單易懂
測試時間快速,V/I 量測模組判斷
IC 測試夾具製作簡易,經濟實惠並可設計為泛用型
IC 測試治具
BGA 封裝類晶片缺陷篩選模式,快速驗證晶片好壞
OCT 測試模組,100% 安全性測試平台
產品特點
所有廠牌 IC 晶片內部功能測試
所有廠牌 IC 晶片邏輯電路分析驗證
所有廠牌 IC 晶片區塊電壓測試,暫存器驗證
所有廠牌 IC 晶片 Net list 學習模式,晶片
內部晶線 open/short 判斷
ProSort | BGA/ IC 功能篩選系統
新世代的測試設備 Pro-IC Defect Tester 可完全檢驗所有的IC, BGA 等積體電路晶片的功能是否有缺陷,搭配獨特的四線式量測模組專利及特殊設計的測試探針可以快速測試及驗證每顆IC 的特性,可用於進料檢驗及 RMA 維修料件驗證。
設備特點
程式製作為自我學習模式,簡單易懂
測試時間快速,V/I 量測模組判斷
IC 測試夾具製作簡易,經濟實惠並可設計為泛用型
IC 測試治具
BGA 封裝類晶片缺陷篩選模式,快速驗證晶片好壞
OCT 測試模組,100% 安全性測試平台
產品特點
所有廠牌 IC 晶片內部功能測試
所有廠牌 IC 晶片邏輯電路分析驗證
所有廠牌 IC 晶片區塊電壓測試,暫存器驗證
所有廠牌 IC 晶片 Net list 學習模式,晶片
內部晶線 open/short 判斷